XRF
Preposto: Prof. Lorenzo Fedele
Telefono: 0812538476
DESCRIZIONE DELLE ATTIVITA’
Nel laboratorio Fluorescenza a raggi X “XRF” vengono effettuate analisi chimiche di elementi maggiori, minori e in traccia (quantitative e qualitative) su campioni di rocce, argille, ceramiche e laterizi. Le principali attività di ricerca riguardano:
- Petrogenesi dei magmi;
- Archeometria;
- Esecuzione di analisi nell'ambito dei progetti di ricerca condotti all'interno del Dipartimento;
- Prestazioni conto terzi.
STRUMENTI IN DOTAZIONE PRESSO IL LABORATORIO:
Il laboratorio è dotato di uno spettrometro sequenziale a dispersione di lunghezza d’onda Axios Panalytical (Fig.1) equipaggiato con tubo di Rodio (Rh), 6 cristalli analizzatori (LiF220, LiF200, LiF420, PE002, PX1, TlAP),3 collimatori (150 μm, 550 μm e 700 μm), 4 filtri (Al 200 μm, Al 750 μm, Brass 100 μm, Brass 400 μm) e 2 contatori (contatore a flusso di gas e scintillatore). La calibrazione è basata su 45 campioni di riferimento certificati (K.P. Jochum, J. Enzweiler, 2014, 15.3 - Reference Materials in Geochemical and Environmental Research, Treatise on Geochemistry (Second Edition), Elsevier, Pages 43-70, https://doi.org/10.1016/B978-0-08-095975-7.01403-0). Il software utilizzato per le misure è SuperQ (Fig.2).
Il Laboratorio è provvisto di una serie di standards internazionali per le necessarie procedure analitiche.
L’incertezza analitica è nell’ordine del 1-2% per gli elementi maggiori e 5-10% per gli elementi in traccia.
PROCEDURA ANALITICA
a. Determinazione della perdita al fuoco (L.O.I.).
b. Preparazione dei campioni in pasticca.
c. Analisi dei campioni con lo spettrometro sequenziale Axios Panalytical.
a. Determinazione della perdita al fuoco (calcinazione)
I campioni sono sottoposti a calcinazione per determinarne la perdita al fuoco (L.O.I., Loss On
Ignition), ponendoli in una muffola a 950°C per circa 4 ore, dopo l'essiccazione notturna in stufa a 110 °C per allontanare l'umidità adsorbita (H2O−).
b. Preparazione dei campioni in pasticca.
I campioni per l’analisi XRF vengono polverizzati (occorrono 4 grammi di campione), omogeneizzati (per mantenere la valenza statistica del campione originario) e pressati per ottenere delle pasticche.
c. Analisi dei campioni con lo spettrometro Axios Panalytical.
Elementi analizzati Limite di rilevabilità
SiO2 wt.% > 130 ppm
TiO2 wt.% > 10 ppm
Al2O3 wt.% > 85 ppm
Fe2O3t wt.% > 16 ppm
MnO wt.% > 6 ppm
MgO wt.% > 85 ppm
CaO wt.% > 35 ppm
Na2O wt.% > 85 ppm
K2O wt.% > 40 ppm
P2O5 wt.% > 30 ppm
Rb ppm > 1 ppm
Sr ppm > 1 ppm
Y ppm > 0.7 ppm
Zr ppm > 1.8 ppm
Nb ppm > 0.8 ppm
Ba ppm > 15 ppm
Cr ppm > 2.5 ppm
Ni ppm > 1.8 ppm
Sc ppm > 2.7 ppm
V ppm > 5 ppm
Co ppm > 0.8 ppm
Cu ppm > 0.8 ppm
Zn ppm > 2 ppm
Ga ppm > 1 ppm
La ppm > 15 ppm
Ce ppm > 10 ppm
Yb ppm > 0.5 ppm
Hf ppm > 0.5 ppm
Ta ppm > 0.8 ppm
Pb ppm > 1 ppm
Th ppm > 3.5 ppm
U ppm > 0.8 ppm
F ppm > 25 ppm
Cl ppm > 1 ppm
S ppm > 1 ppm
Secondo le norme vigenti della Radioprotezione l'accesso per i visitatori è consentito purché accompagnato dal personale del laboratorio. L'accesso è interdetto alle visitatrici in stato di gravidanza.
Fig.1 Spettrometro sequenziale a dispersione di lunghezza d’onda Axios Panalytical.
Fig.2 PC in comunicazione con lo spettrometro mediante programma SuperQ.